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牛津儀器920熒光光譜儀 X-Strata920
品牌：Oxford Instruments牛津儀器
型號：X-Strata920
奔藍科技（昆山）有限公司專業代理英國Oxford Instruments牛津儀器X-Strata920 X射線熒光鍍層厚度測量儀(X-ray Fluorescence Measurement System)及配件！我司集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！
牛津儀器920熒光光譜儀：是牛津儀器新開發的新一代鍍層膜厚儀，是X-Strata920膜厚儀的升級產品，將逐漸取代膜厚儀CMI900，是X射線熒光(XRF)鍍層膜厚儀，無損測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，快速簡潔只需要10秒即可得出測量結果，是質量控制、節約成本的*檢測工具。
利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。
是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
無損分析：無需樣品制備
經行業認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
X-Strata920鍍層測厚儀的優勢：
一、高性能、高精度、長期穩定性
快速精確的分析帶來生產成本*化
精確測定元素厚度
優化的性能可滿足廣泛的元素測量
二、堅固耐用的設計
可靠近生產線或在實驗室操作
生產人員易于使用
三、簡單的校準調試
在沒有標準片時，經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果
方法建立只需幾分鐘
我們提供認證標準片以確保*精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025）
預置了多種校準參數
四、可分析多種樣品形狀和尺寸
可分析多種樣品類型，從微小的電子元件到浴室配件
提供多種硬件供選配，滿足各種需要
X-Strata920 – 性價比高，無損可靠
操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
1、新型號設計
2、快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
3、多款規格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型
4、開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等
5、符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
Oxford Instruments牛津儀器還有以下產品：
CMI760臺式PCB孔面銅測厚儀
MM805臺式PCB孔面銅測厚儀
CMI165便攜式PCB面銅測厚儀（帶溫度補償功能）
MM615 便攜式PCB面銅測厚儀
CMI563便攜式PCB面銅測厚儀
CMI500 便攜式PCB孔銅測厚儀
MM610 便攜式PCB孔銅測厚儀
MM125 便攜式PCB銅箔測厚儀
MM125A 便攜式PCB銅箔測厚儀
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